均一性の高い散乱照明により、製品表面の凹凸による干渉を排除 アプリケーション印刷の文字検査、色ずれ検査曲面または凹凸のある表面電子部品上の部品検査
最高照度は最大110万lx(WD:50mm) アプリケーションガラスカバープレートの外観検査プリント基板回路検査リチウムコーティング、コイル外観欠陥検出
均一性の高い散乱照明により、製品表面の凹凸による干渉を排除 アプリケーション光沢表面のビジョン/テキスト/色判定検査曲面または凹凸のある表面基板上の部品検査など
LNH2シリーズの光の最大照度は最大270万ルクスですLNH-Aシリーズ光の最大照度は最大220万lx(WD:50mm) アプリケーションガラスカバープレートの外観検査プリント基板回路検査リチウムコーティング、コイル外観欠陥検出より高速な大規模現場検査...
