高解像度。通常のCO2シリーズ同軸の4倍の明るさ。反射率の高い物体の影を減らします。アプリケーション:高精度なデバイス欠陥検出高精度寸法測定チップ表面欠陥検出ウェーハサイズ測定と欠陥検出精密医療機器部品の汚れ検出
高輝度。通常のCO2シリーズ同軸の10倍の明るさ。アプリケーション:反射面のくぼみ、損傷、欠陥プリント基板特性、パターン検出ポイントの位置をマークする二次元コード認識 など
高輝度、大視野照明用の前面バックライトアプリケーション寸法測定位置決め・不在検査透過物の外観検査
C-TLシリーズ高い均一拡散されたillumnation。大規模な現場検査を実現します。用途:印刷文字、欠陥検査。PCBリチウム電池の表面欠陥検査。